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  • 測(cè)試探針PAL50-B

    測(cè)試探針PAL50-B

    產(chǎn)品名稱(chēng):PL50-B、PAL50-B
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:測(cè)試探針外徑為0.68mm,頂針總長(zhǎng)為28.0mm測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    針桿:鈹銅或SK4鍍金或銠
    套管:磷銅鍍金
    鉆孔尺寸:0.90mm
    額定電流:3安培
    接觸電阻:50毫歐姆
    接觸彈力:100g
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682

  • 測(cè)試探針PAL50-A

    測(cè)試探針PAL50-A

    產(chǎn)品名稱(chēng):PL50-A、PAL50-A
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:測(cè)試探針外徑為0.68mm,頂針總長(zhǎng)為28.0mm測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    針桿:鈹銅或SK4鍍金或銠
    套管:磷銅鍍金
    鉆孔尺寸:0.90mm
    額定電流:3安培
    接觸電阻:50毫歐姆
    接觸彈力:100g
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682

  • 測(cè)試探針R160-2S 3S 3C

    測(cè)試探針R160-2S 3S 3C

    產(chǎn)品名稱(chēng):R160-2S 3S 3C
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    鉆孔尺寸有:1.70mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:R160焊線(xiàn)式套管,針套外徑為1.67mm,P160探針針套
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g
    鉆孔尺寸:1.70mm

  • 測(cè)試探針R160-1W、2W、3W

    測(cè)試探針R160-1W、2W、3W

    產(chǎn)品名稱(chēng):R160-1W、2W、3W
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    探針鉆孔尺寸有:1.70mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:P160探針、1.36mm測(cè)試針、總長(zhǎng)24.50mm、彈簧針、測(cè)試針、頂針、探針
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g

  • 測(cè)試探針P160-T3

    測(cè)試探針P160-T3

    產(chǎn)品名稱(chēng):P160-T3、PA160-T3
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    探針頭型尺寸有:1.8mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:P160探針、1.36mm測(cè)試針、總長(zhǎng)24.50mm、彈簧針、測(cè)試針、頂針、探針
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g

  • 測(cè)試探針P160-T

    測(cè)試探針P160-T

    產(chǎn)品名稱(chēng):P160-T、PA160-T
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    探針頭型尺寸有:1.5mm、1.8mm、2.0mm、2.5mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:P160探針、1.36mm測(cè)試針、總長(zhǎng)24.50mm、彈簧針、測(cè)試針、頂針、探針
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g

  • 測(cè)試探針P160-Q2

    測(cè)試探針P160-Q2

    產(chǎn)品名稱(chēng):P160-Q2、PA160-Q2
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    探針頭型尺寸有:1.5mm、1.8mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:P160探針、1.36mm測(cè)試針、總長(zhǎng)24.50mm、彈簧針、測(cè)試針、頂針、探針
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g

  • 測(cè)試探針P160-Q1

    測(cè)試探針P160-Q1

    產(chǎn)品名稱(chēng):P160-Q1、PA160-Q1
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    探針頭型尺寸有:1.0mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:P160探針、1.36mm測(cè)試針、總長(zhǎng)24.50mm、彈簧針、測(cè)試針、頂針、探針
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g

  • 測(cè)試探針P160-LM

    測(cè)試探針P160-LM

    產(chǎn)品名稱(chēng):P160-LM、PA160-LM
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    探針頭型尺寸有:1.5mm、1.8mm、2.0mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:P160探針、1.36mm測(cè)試針、總長(zhǎng)24.50mm、彈簧針、測(cè)試針、頂針、探針
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g

  • 測(cè)試探針P160-J 27L

    測(cè)試探針P160-J 27L

    產(chǎn)品名稱(chēng):P160-J 27L、PA160-J 27L
    所屬分類(lèi):測(cè)試探針
    探針頭型尺寸有:1.0mm
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:P160探針、1.36mm測(cè)試針、總長(zhǎng)27mm、彈簧針、測(cè)試針、頂針、探針
    訂購(gòu)熱線(xiàn):400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧:不銹鋼線(xiàn)
    套管:黃銅管鍍金
    針桿:磷銅鍍鎳或鈹銅
    鉆孔尺寸:1.70mm
    接觸彈力:140g

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探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大?

探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大?

探針使用一段時(shí)間后電阻值增大,主要有以下幾方面原因:1. 氧化- 當(dāng)探針與空氣或其他氧化劑接觸時(shí),其表面可能會(huì)發(fā)生氧化反應(yīng)。例如,金屬探針在空氣中長(zhǎng)時(shí)間放置,會(huì)與氧氣反應(yīng)生成金屬氧化物,這些氧化物的導(dǎo)電性通常比純金屬差,從而形成絕緣層或高電阻層,導(dǎo)致探針的電阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能較好的材料制成的探針,在長(zhǎng)期使用過(guò)程中,也會(huì)逐漸吸附一定量的氧氣或其他氧化性物質(zhì),進(jìn)而改變其表面的化學(xué)組成和電阻率。2. 磨損- 在頻繁使用或與其他物體接觸、摩擦的過(guò)程中,探針的表面會(huì)逐漸磨損。磨損會(huì)破壞探針表面的完整性,使導(dǎo)電通路受損或變窄,增加電流通過(guò)時(shí)的阻力,導(dǎo)致電阻值上升。比如,用于測(cè)試電路板上焊點(diǎn)的探針,在多次接觸焊點(diǎn)后,其尖端可能會(huì)磨損,從而使接觸電阻增大。- 長(zhǎng)期的磨損還可能導(dǎo)致探針表面的粗糙度增加,進(jìn)一步影響

2025-03-11

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